Bu yazımda kısaca yüzey görüntüleme de kullanılan tekniklere değineceğim AFM(Atomic Force Microscope): Türkçe'ye "atomik kuvvet mikroskobu" ola rak çevirebiliriz. Oldukça yüksek bir teknoloji ürünü olan bu cihaz yüzeyde gezinen bir prob ve bu probun pozisyonunu dedekte eden optik bir düzenekten oluşuyor. Prob yüzeyin şekline göre aşağı inip yukarı kalkmaktadır. Böylece yüzeyin yapısını taklit edecek sinyalleri üretmiş olur. Görüntüler bilgisayarda işlenerek kullanıcıya yüzey şekli gösterilir. STM(Scanning Tunneling Microscope): Türkçe'ye "taramalı tünelleme miksorkop" olarak ç evrilebilir. Bu da aslında yüksek bir teknoloji ürünüdür. Kuantum fiziğindeki tünneleme akımı prensibine dayanır. Yine bu yöntemde de yüzeyde gezinen bir prob vardır. İletken yüzeylerde kullanılan STM yüzeyden alınan tünelleme akımını ölçerek yüzeyin uzaklığını algılar. Elde edilen verileri bir bilgisayara gönderen sistem bir yüzey görüntüsünün burda oluşuturulmasını sağlayarak kullan...