Bilimsel Açıklama: yüzey görüntüleme teknikleri

yüzey görüntüleme teknikleri

Bu yazımda kısaca yüzey görüntüleme de kullanılan tekniklere değineceğim

AFM(Atomic Force Microscope):
Türkçe'ye "atomik kuvvet mikroskobu" olarak çevirebiliriz. Oldukça yüksek bir teknoloji ürünü olan bu cihaz yüzeyde gezinen bir prob ve bu probun pozisyonunu dedekte eden optik bir düzenekten oluşuyor. Prob yüzeyin şekline göre aşağı inip yukarı kalkmaktadır. Böylece yüzeyin yapısını taklit edecek sinyalleri üretmiş olur. Görüntüler bilgisayarda işlenerek kullanıcıya yüzey şekli gösterilir.

STM(Scanning Tunneling Microscope):
Türkçe'ye "taramalı tünelleme miksorkop" olarak çevrilebilir. Bu da aslında yüksek bir teknoloji ürünüdür. Kuantum fiziğindeki tünneleme akımı prensibine dayanır. Yine bu yöntemde de yüzeyde gezinen bir prob vardır. İletken yüzeylerde kullanılan STM yüzeyden alınan tünelleme akımını ölçerek yüzeyin uzaklığını algılar. Elde edilen verileri bir bilgisayara gönderen sistem bir yüzey görüntüsünün burda oluşuturulmasını sağlayarak kullancıya istediği bilgiyi vermiş olur.

SEM(Scanning Electron microscope):
Türkçe'ye "taramalı elektron mikroskobu" olarak çevirebiliriz. Yüzeye gönderilen hızlandırılmış elektronların dalga özelliğinden faydalanılarak ışık kaynağı gibi kullanılır. Işık kaynağı gibi yüzyeyi aydınlattığını varsayarsak bunları toplayan bir çeşit kameramız da var. Yüzeyi tarayarak her noktaya elektron gönderilir daha sonra da bir düzenek aracılığıyla toplanan geri saçılan elektronlardan yüzey hakkında ilgi elde edilir.
TEM(Trasnmission Electron Microscope):
Türkçe'ye "geçirgenlik elektron mikroskobu" olarak çevirebilir. Burada da elektronlardan faydalanılmaktadır. Elektron istenilen örnekten geçirilerek elektron geçirgenliğine göre yüzey hakkında bilgi edinilir.